薄膜測量檢測費用

免費初檢。因檢測項目以及實驗復雜程度不同，需聯系工程師確定后進行報價。

檢測時間：一般3-10個工作日（特殊樣品除外）。有的項目可加急1.5天出報告。

薄膜測量檢測報告用途

報告類型：電子報告、紙質報告(中文報告、英文報告、中英文報告)。

檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等

薄膜測量檢測報告如何辦理？檢測項目及標準有哪些？百檢第三方檢測機構，嚴格按照薄膜測量檢測相關標準進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。

涉及薄膜測量的標準有185條。

國際標準分類中，薄膜測量涉及到表面處理和鍍涂、分析化學、麻袋、袋子、長度和角度測量、玻璃、輻射測量、食品綜合、半導體分立器件、電學、磁學、電和磁的測量、陶瓷、導體材料、印制電路和印制電路板、有機化學、物理學、化學、攝影技術、詞匯、頻率控制和選擇用壓電器件與介質器件、電子顯示器件、電子元器件綜合、光學和光學測量、半導體材料、罐、聽、管、電子電信設備用機電元件、電子設備用機械構件、橡膠和塑料工業的生產工藝、橡膠和塑料制品、無損檢測、石油和天然氣工業設備、熱力學和溫度測量、電氣設備元件、包裝材料和輔助物、造船和海上構筑物綜合、涂料和清漆、建筑材料、潤滑劑、工業油及相關產品、非金屬礦。

在中國標準分類中，薄膜測量涉及到材料防護、基礎標準與通用方法、工業技術玻璃、包裝材料與容器、基礎標準與通用方法、電離輻射計量、基礎標準與通用方法、電磁計量、有機化工原料綜合、半導體分立器件綜合、特種陶瓷、電子元件綜合、物理學與力學、顏色、合成樹脂、塑料基礎標準與通用方法、包裝方法、電工材料和通用零件綜合、標志、包裝、運輸、貯存綜合、電子設備專用微特電機、微型電機、感光材料、物質成份分析儀器與環境監測儀器綜合、塑料型材、基礎標準和通用方法、其他、金屬理化性能試驗方法綜合、金屬無損檢驗方法、長度計量、流量與物位儀表、涂料基礎標準與通用方法、涂料、磁性元器件、電子技術專用材料、電化學、熱化學、光學式分析儀器、基本有機化工原料、、電工儀器、儀表綜合、潤滑油、建材原料礦。

未注明發布機構，關于薄膜測量的標準

GB/T 38518-2020柔性薄膜基體上涂層厚度的測量方法

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于薄膜測量的標準

GB/T 36053-2018X射線反射法測量薄膜的厚度、密度和界面寬度儀器要求、準直和定位、數據采集、數據分析和報告

GB/T 33826-2017玻璃襯底上納米薄膜厚度測量 觸針式輪廓儀法

國家質檢總局，關于薄膜測量的標準

GB/T 31556.2-2015包裝袋 尺寸描述和測量方法 第2部分:熱塑性軟質薄膜袋

GB/T 31227-2014原子力顯微鏡測量濺射薄膜表面粗糙度的方法

GB/T 30447-2013納米薄膜接觸角測量方法

GB/T 15053-2008使用輻射顯色薄膜和聚甲基丙烯酸甲酯劑量測量系統測量吸收劑量的標準方法

GB/T 15053-1994使用輻射顯色薄膜和聚甲基丙烯酸甲脂劑量測量系統測量吸收劑量標準方法

國際電工委員會，關于薄膜測量的標準

IEC 62899-503-3:2021印刷電子.第503-3部分:質量評定.印刷薄膜晶體管接觸電阻的測量方法.傳輸長度法

IEC 61788-17:2021 RLV超導性第17部分:電子特性測量大面積超導薄膜中的局部臨界電流密度及其分布

IEC 61788-17:2021超導性 - 第17部分:電子特性測量 - 局部臨界電流密度及其在大面積超導薄膜中的分布

IEC 62899-202-7:2021印刷電子.第202-7部分:材料.印刷薄膜.用90°剝離法測量柔性襯底上印刷層的剝離強度

IEC 62899-503-1:2020印刷電子.第503-1部分:質量評定.印刷薄膜晶體管位移電流測量的試驗方法

IEC TS 62607-5-3:2020納米制造關鍵控制特性第5-3部分:薄膜有機/納米電子器件電荷載流子濃度的測量

IEC 62047-30:2017半導體器件 - 微機電器件 - 第30部分:MEMS壓電薄膜機電轉換特性的測量方法

IEC 62047-17:2015半導體器件 - 微機電器件 - 第17部分:用于測量薄膜機械性能的膨脹測試方法

IEC TS 62607-5-1:2014納米制造關鍵控制特性第5-1部分:薄膜有機/納米電子器件載流子傳輸測量

IEC/TS 62607-5-1-2014納米制造.關鍵控制特性.第5-1部分:薄膜有機/納米電子設備.載體運輸測量

IEC 61788-17:2013超導性 - 第17部分:電子特性測量 - 局部臨界電流密度及其在大面積超導薄膜中的分布

IEC 61788-17-2013超導性.第17部分:電氣特性測量值.大面積超導薄膜的局部臨界電流密度及其分布

IEC 62047-14-2012半導體裝置.微電機裝置.第14部分:金屬薄膜材料的成型極限測量方法

IEC 61788-15:2011超導性 - 第15部分:電子特性測量 - 超導體薄膜在微波頻率下的內在表面阻抗

IEC 61788-15-2011超導性.第15部分:電子特性測量.微波頻率下超導薄膜的固有表面阻抗

IEC 62047-8:2011半導體器件 - 微機電器件 - 第8部分:用于薄膜拉伸性能測量的帶鋼彎曲試驗方法

IEC 62047-8-2011半導體裝置.微電機裝置.第8部分:薄膜的拉力特性測量的帶狀抗彎試驗方法

IEC 60746-4-1992電化學分析儀性能表示法 第4部分:用包有薄膜的電流傳感器測量水中的溶解氧

英國標準學會，關于薄膜測量的標準

BS EN IEC 61788-17-2021超導性. 第17部分: 電氣特性測量值. 大面積超導薄膜的局部臨界電流密度及其分布

BS EN 62047-17-2015半導體器件. 微型機電裝置. 用于測量薄膜力學性能的脹形試驗方法

BS PD IEC/TS 62607-5-1-2014納米制造. 關鍵控制特性. 有機薄膜/納米電子器件. 載波傳輸測量

BS ISO 17861-2014精細陶瓷(高級陶瓷, 高級工業陶瓷). 在潮濕條件下精細陶瓷薄膜光譜透射率的測量方法

BS ISO 17861-2014精細陶瓷(高級陶瓷, 高級工業陶瓷). 在潮濕條件下精細陶瓷薄膜光譜透射率的測量方法

BS EN 61788-17-2013超導性.電氣特性測量值.大面積超導薄膜的局部臨界電流密度及其分布

BS EN 61788-17-2013超導性.電氣特性測量值.大面積超導薄膜的局部臨界電流密度及其分布

BS EN 62047-14-2012半導體裝置.微型電機裝置.金屬薄膜材料的成形極限測量方法

BS EN 62047-8-2011半導體裝置.微電機裝置.薄膜拉伸性能測量用帶材彎曲試驗方法

BS EN 15042-1-2006覆層厚度測量和表面波紋表征.使用激光感應表面聲波法測定薄膜的彈性常數,密度和厚度用指南

BS EN 26591-2-1993包裝袋.第2部分:測量方法和說明.熱塑性塑料軟薄膜空袋

BS 5806-1979云母塊、薄片、薄膜和碎片的厚度測量法

國際標準化組織，關于薄膜測量的標準

ISO 23738:2021精細陶瓷（高級陶瓷 高級工業陶瓷）.潮濕條件下精細陶瓷薄膜光譜反射率的測量方法

ISO 17861-2014精細陶瓷(高級陶瓷, 高級工業陶瓷). 在潮濕條件下精細陶瓷薄膜光譜透射率的測量方法

ISO 17861:2014精細陶瓷（先進陶瓷 先進技術陶瓷） - 潮濕條件下精細陶瓷薄膜的光譜透射率測量方法

ISO 15989 Technical Corrigendum 1-2007塑料.薄膜和薄片.電暈處理薄膜水接觸角的測量.技術勘誤1

ISO 15989:2004塑料制品；薄膜和薄片——電暈處理薄膜水接觸角的測量

ISO 15989-2004塑料.薄膜和薄板.電暈處理薄膜的水接觸角度的測量

ISO/TTA 4:2002測量硅襯底上薄膜的導熱率

ISO/TTA 4-2002硅基質上薄膜導熱性的測量

ISO 8311:1989冷凍輕烴流體.船用薄膜罐和獨立棱柱罐的校準.物理測量

ISO 6591-2:1985包裝與包裝；麻袋和麻袋；說明和測量方法第2部分:熱塑性柔性薄膜制成的空袋

ISO 6591-2-1985包裝 袋 說明及測量方法 第2部分:熱塑柔性薄膜空袋

ISO 5972:1978云母塊、薄片、薄膜和裂片.厚度測量

，關于薄膜測量的標準

SIS 18 41 58-1973油漆．由刻度盤指示器線性測量測定薄膜厚度

美國材料與試驗協會，關于薄膜測量的標準

ASTM D8331/D8331M-20用加固光學干涉法用非破壞性方法測量薄膜涂層厚度的標準試驗方法

ASTM D5796-20使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統的干膜厚度的標準測試方法

ASTM D7767-11(2018)從輻射可固化丙烯酸酯單體 低聚物和共混物和薄膜制成的測量揮發物的標準測試方法

ASTM E2244-11(2018)使用光學干涉儀測量薄膜 反射膜的面內長度的標準測試方法

ASTM E2444-11(2018)標準術語 涉及對薄膜 反射膜的測量

ASTM F1711-96(2016)使用四點探針法測量平板顯示器制造薄膜導體的薄片電阻的標準實踐

ASTM F1844-97(2016)使用非接觸式渦流量規測量平板顯示器制造薄膜導體薄片電阻的標準實踐

ASTM D5796-10(2015)使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統的干膜厚度的標準測試方法

ASTM E2244-11e1使用光學干涉儀測量薄膜 反射膜的面內長度的標準測試方法

ASTM D7767-11從輻射可固化丙烯酸酯單體 低聚物和共混物和薄膜制成的測量揮發物的標準測試方法

ASTM E2244-11使用光學干涉儀測量薄膜 反射膜的面內長度的標準測試方法

ASTM E2444-11反射薄膜測量術語

ASTM E2444-11e1反射薄膜測量術語

ASTM E2444-2011e1與反射薄膜上測量的相關術語

ASTM E2244-2011利用光學干涉薄膜測量反射薄膜平面長度的標準試驗方法

ASTM E2444-2011反射薄膜測量相關術語

ASTM E2246-2011用光學干涉儀測量反射薄膜應變梯度的標準試驗方法

ASTM E2244-2011e1采用光學干涉儀測量反射薄膜共面長度的標準試驗方法

ASTM E2246-2011e1采用光學干涉儀測量反射薄膜應變梯度的標準試驗方法

ASTM E2245-2011e1采用光學干涉儀測量反射薄膜殘余應變的標準試驗方法

ASTM D5796-10使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統的干膜厚度的標準測試方法

ASTM D5796-03(2010)使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統的干膜厚度的標準測試方法

ASTM D5796-2010用鉆孔裝置進行破壞法測量薄膜涂覆系統的干膜厚度的標準試驗方法

ASTM E2120-2010(2016)用于涂料薄膜中鉛含量測量的便攜式X射線熒光分光計的性能評估標準實施規程

ASTM D5946-2009用測量水接觸角測量結果測定經電暈處理的聚合物薄膜的試驗方法

ASTM F1844-97(2008)使用非接觸式渦流量規測量平板顯示器制造薄膜導體薄片電阻的標準實踐

ASTM F1711-96(2008)使用四點探針法測量平板顯示器制造薄膜導體的薄片電阻的標準實踐

ASTM E252-2006質量測量法測定箔片、薄板和薄膜厚度的標準試驗方法

ASTM E252-2006(2013)采用質量測量的箔片, 薄板和薄膜厚度的標準試驗方法

ASTM E2244-05使用光學干涉儀測量薄膜 反射膜的面內長度的標準測試方法

ASTM E252-05用質量測量法測定薄片和薄膜厚度的標準試驗方法

ASTM E2444-05反射薄膜測量術語

ASTM E2444-05e1反射薄膜測量術語

ASTM E2444-2005與反射薄膜上測量的相關術語

ASTM E2245-2005用光學干涉儀測量反射薄膜殘余應力的標準試驗方法

ASTM E2244-2005用光學干涉儀測量反射薄膜共面長度的標準試驗方法

ASTM E252-2005質量測量法測定薄箔、薄板和薄膜厚度的標準試驗方法

ASTM E2444-2005e1與反射薄膜上測量的相關術語

ASTM E2246-2005用光學干涉儀測量反射薄膜應變梯度的標準試驗方法

ASTM E252-04用質量測量法測定薄膜厚度的標準試驗方法

ASTM D5946-2004用水觸點角度測量法測定電暈處理聚合物薄膜的標準試驗方法

ASTM E252-2004用質量測量法測定薄箔和薄膜厚度的標準試驗方法

ASTM D5796-03使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統的干膜厚度的標準測試方法

ASTM D5796-2003用鉆孔裝置破壞性測量薄膜盤繞覆層系統的干膜厚度的標準試驗方法

ASTM D5796-2003(2010)用鉆孔裝置破壞性測量薄膜盤繞覆層系統的干膜厚度的標準試驗方法

ASTM F1711-96(2002)用四點探針測量平板顯示器制造用薄膜導體片電阻的標準實施規程

ASTM F1844-97(2002)使用非接觸式渦流量規測量平板顯示器制造薄膜導體薄片電阻的標準實踐

ASTM E2244-02使用光學干涉儀測量薄膜 反射膜的面內長度的標準測試方法

ASTM E2246-2002用光學干涉儀測量反射薄膜應變梯度的標準試驗方法

ASTM E2244-2002用光學干涉儀測量反射薄膜共面長度的標準試驗方法

ASTM E2245-2002用光學干涉儀測量反射薄膜殘余應力的標準試驗方法

ASTM D5895-2001e1機械記錄器用有機涂層烘干或硫化期間薄膜產生時間測量用標準試驗方法

ASTM D5946-2001利用水流接點角度的測量對電暈處理聚合物薄膜標準測試方法

ASTM D5895-2001機械記錄器用有機涂層烘干或硫化期間薄膜產生時間測量用標準試驗方法

ASTM E2120-2000涂料薄膜中鉛含量測量用便攜式X射線熒光光譜儀性能評估的標準實施規程

ASTM D5796-99使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統的干膜厚度的標準測試方法

ASTM F1225-99測量薄膜和織物筒的帶狀出口力的標準試驗方法

ASTM F1225-99(2003)測量薄膜和織物筒的帶狀出口力的標準試驗方法

ASTM D5946-1999利用水流接點角度的測量對電暈處理聚合物薄膜標準測試方法

ASTM D5796-1999用鉆孔裝置進行破壞法測量薄膜涂覆系統的干膜厚度的標準試驗方法

ASTM F1844-97使用非接觸式渦流量規測量平板顯示器制造薄膜導體薄片電阻的標準實踐

ASTM F1844-1997(2002)用非接觸式渦流計測量平板顯示器制造用薄膜導體耐力的標準操作規程

ASTM F1844-1997(2008)用非接觸式渦流計測量平板顯示器制造用薄膜導體耐力的標準實施規程

ASTM F1844-1997(2016)采用非接觸式渦流計測量平板顯示器制造用薄膜導體的薄層電阻的標準實施規程

ASTM F1844-1997用非接觸式渦流計測量平板顯示器制造用薄膜導體耐力的標準操作規程

ASTM F1711-96用四點探針測量平板顯示器制造用薄膜導體片電阻的標準實施規程

ASTM F673-90(1996)e1用非接觸渦流計測量半導體薄片電阻率或半導體薄膜片電阻的標準試驗方法

ASTM F1711-1996(2016)采用四點探針法測量平板顯示器制造用薄膜導體的薄層電阻的標準實施規程

ASTM D5895-1996機械記錄器用有機涂層烘干或硫化期間薄膜產生時間測量用標準試驗方法

ASTM F692-97測量可焊薄膜與基底粘合強度的標準試驗方法

工業和信息化部，關于薄膜測量的標準

HG/T 5659-2019光學功能薄膜黃變的測量方法

行業標準-化工，關于薄膜測量的標準

HG/T 5077-2016光學功能薄膜近紅外光譜透過率的測量方法

HG/T 4608-2014光學功能薄膜顏色的測量方法

HG/T 4951-2016光學功能薄膜對比度測量方法

日本工業標準調查會，關于薄膜測量的標準

JIS R1698-2015在潮濕條件下精細陶瓷薄膜光譜反射率的測量

JIS R1694-2012潮濕條件下精細陶瓷薄膜的光譜透射率測量

JIS R1694-2012潮濕條件下精細陶瓷薄膜的光譜透射率測量

JIS K5600-4-5 ERRATUM 1-2002涂料試驗方法.第4部分:薄膜的外觀特性.第5節:比色法(測量)(勘誤1)

德國標準化學會，關于薄膜測量的標準

DIN IEC/TS 62607-5-1-2014納米加工.關鍵控制特性.第5-1部分:薄膜有機/納米電子設備.載體運輸測量(IEC 113/183/CD-2013)

DIN EN 61788-17-2013超導性.第17部分:電氣特性測量值.大面積超導薄膜的局部臨界電流密度及其分布(IEC 61788-17-2013).德文版本EN 61788-17-2013

DIN EN 16283-2013包裝. 鋁軟管. 測量刺穿薄膜作用力的試驗方法; 德文版本EN 16283-2013

DIN EN 62047-14-2012半導體裝置.微電機裝置.第14部分:金屬薄膜材料的成型極限測量方法(IEC 62047-14-2012).德文版本EN 62047-14-2012

DIN EN 61788-15-2012超導性.第15部分:電子特性測量.微波頻率下超導薄膜的固有表面阻抗(IEC 61788-15-2011).德文版本EN 61788-15-2011

DIN EN 62047-8-2011半導體設備.微機電設備.第8部分:薄膜拉伸性能測量用帶彎曲試驗方法(IEC 62047-8-2011).德文版 EN 62047-8-2011

DIN EN 13048-2009包裝.鋁軟管.內部清漆薄膜厚度測量方法.英文版本DIN EN 13048-2009-08

PAS 1022-2004檢測材料及介電材料性質以及用橢偏儀測量薄膜層厚度的參考程序

DIN IEC 60746-4-1996電化學分析儀性能表示方法.第4部分:用包有薄膜的電流傳感器測量水中的溶解氧

DIN EN 26591-2-1993包裝.包裝袋.說明及測量方法.第2部分:熱塑柔性薄膜空袋

法國標準化協會，關于薄膜測量的標準

NF C31-888-17-2013超導性.第17部分:電氣特性測量值.大面積超導薄膜的局部臨界電流密度及其分布

NF C96-050-14-2012半導體裝置.微電機裝置.第14部分:金屬薄膜材料的成形極限測量方法

NF C31-888-15-2012超導性.第15部分:電子特性測量.微波頻率下超導薄膜的固有表面阻抗

NF C96-050-8-2011半導體裝置.微機電裝置.第8部分:用鋼帶彎曲試驗法測量薄膜的拉伸性能.

NF T54-199-1999塑料.工業用聚合物制成的薄膜和薄片.著色薄膜或薄片的光投射縮小比測量.

NF M08-019-1996輕質碳氫化合物制冷液.船上薄膜式罐和柱型罐的標定.物理測量法

NF P84-505-1993地膜."標準覆地薄膜砂"直接剪切角的測量

NF T30-124-1991涂料和清漆 .干性薄膜厚度測量.磁通量無損測量法

NF T60-182-1990石油產品.用薄膜氧氣吸收法(Tfout)測量汽油車輛發動機機油氧化穩定性的試驗方法

NF T30-121-1974涂料.干性薄膜厚度的測定.千分尺測量法

韓國標準，關于薄膜測量的標準

KS T ISO 6591-2-2012熱塑柔性薄膜袋的尺寸標識與測量方法

KS C 2150-2008在高頻帶(500MHz?10GHz)的介電常數和介電損耗測量的介電薄膜的方法

KS C 2150-2008在高頻帶(500MHz?10GHz)的介電常數和介電損耗測量的介電薄膜的方法

KS C 6111-3-2007超導電子特性的測量.高溫超導薄膜的高頻固有表面阻抗測量方法

KS C 6111-3-2007超導電子特性的測量.高溫超導薄膜的高頻固有表面阻抗測量方法

KS M ISO 8311-2003輕質碳氫化合物制冷液.船上薄膜式罐和柱型罐的標定.物理測量法

KS M ISO 8311-2003輕質碳氫化合物制冷液.船上薄膜式罐和柱型罐的標定.物理測量法

KS M ISO 5989-2002塑料.薄膜和薄板.電暈處理薄膜的水接觸角度的測量

歐洲電工標準化委員會，關于薄膜測量的標準

EN 62047-8-2011半導體器件.微型電機裝置.第8部分:薄膜拉力特性測量的帶狀抗彎試驗

歐洲標準化委員會，關于薄膜測量的標準

EN 13048-2009包裝.鋁軟管.內部清漆薄膜厚度測量方法

EN 13048-2000包裝.鋁軟管.內部清漆薄膜厚度測量方法

EN 26591-2-1992包裝.袋.描述和測量法.第2部分:熱塑軟薄膜空袋

行業標準-電子，關于薄膜測量的標準

SJ/T 11207-1999釔鐵石榴石單晶磁性薄膜磁特性的測量方法

澳大利亞標準協會，關于薄膜測量的標準

AS/NZS 1580.602.2-1995油漆及類似材料 測試方法 20度、60度和85度條件下進行非金屬性油漆薄膜鏡面光澤測量

丹麥標準化協會，關于薄膜測量的標準

DS/ISO 6591/2-1987包裝.包裝袋.測量方法和描述.第2部分:熱塑軟薄膜制成的空袋

溫馨提示：以上內容僅供參考，更多檢測相關信息請咨詢公司官方客服。