薄膜結(jié)構(gòu)測試檢測費用

免費初檢。因檢測項目以及實驗復(fù)雜程度不同，需聯(lián)系工程師確定后進(jìn)行報價。

檢測時間：一般3-10個工作日（特殊樣品除外）。有的項目可加急1.5天出報告。

薄膜結(jié)構(gòu)測試檢測報告用途

報告類型：電子報告、紙質(zhì)報告(中文報告、英文報告、中英文報告)。

檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗等

薄膜結(jié)構(gòu)測試檢測報告如何辦理？檢測項目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照薄膜結(jié)構(gòu)測試檢測相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。

涉及薄膜結(jié)構(gòu)測試的標(biāo)準(zhǔn)有6條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，薄膜結(jié)構(gòu)測試涉及到半導(dǎo)體分立器件、電子電信設(shè)備用機(jī)電元件、集成電路、微電子學(xué)。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，薄膜結(jié)構(gòu)測試涉及到其他、半導(dǎo)體分立器件綜合。

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于薄膜結(jié)構(gòu)測試的標(biāo)準(zhǔn)

JIS C5630-12-2014半導(dǎo)體器件.微電機(jī)器件.第12部分:使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞測試方法

JIS C5630-12-2014半導(dǎo)體器件.微電機(jī)器件.第12部分:使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞測試方法

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于薄膜結(jié)構(gòu)測試的標(biāo)準(zhǔn)

NF C96-050-12-2012半導(dǎo)體器件 - 微型機(jī)電裝置 - 第12部分: 使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞測試方法.

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于薄膜結(jié)構(gòu)測試的標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN 62047-12-2012半導(dǎo)體器件.微電機(jī)器件.第12部分:使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞測試方法(IEC 62047-12-2011).德文版本EN 62047-12-2011

國際電工委員會，關(guān)于薄膜結(jié)構(gòu)測試的標(biāo)準(zhǔn)

IEC 62047-12-2011半導(dǎo)體器件.微電機(jī)器件.第12部分:使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞測試方法

IEC 60748-23-2:2002半導(dǎo)體器件 - 集成電路 - 第23-2部分:混合集成電路和薄膜結(jié)構(gòu) - 制造線認(rèn)證 - 內(nèi)部目視檢查和特殊測試

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